ГОСТР 55191— 2012
Приложение Ж
(справочное)
Помехи
Ж.1 Источники помех
Помехи, влияющие на показания приборов для измерения частичных зарядов, можно разделить надве ка
тегории:
- помехи, возникающие в отключенной от питания испытательной схеме. Они могут быть вызваны комму
тационными процессами в других цепях, коллекторными машинами, близкими испытаниями при высоком напря
жении. радиосвязьюи т.п., включая собственный шум измерительного прибора. Они также могут возникать, когда
источникпитания подключен киспытательной цепи, а напряжение равнонулю;
- помехи, возникающиетолько во включенной схеме, но которые происходят не в испытуемом объекте. Ин
тенсивность этих помех обычно возрастает при увеличении напряжения. К ни»/ относятся, например, частичные
разрядыв силовом трансформаторе, на проводниках высокогонапряжения или во вводах (когда они неявляются
частью испытуемого обьекта). Помехи могут быть вызваны искрением плохо заземленных, находящихся побли
зости объектов, или плохими контактами взоне высокого напряжения (искровыми разрядами между распредели
тельными щитами идругими проводниками высокогонапряжения, подсоединеннымикнимтолькодля испытания).
Помехи могут также возникать из-за высших гармоник испытательного напряжения, частоты которыхлежат рядом
или вполосе пропускания измерительной системы. Такие высшие гармоникичастовстречаются в источниках низ
кого напряжения вследствие наличия коммутационных устройств на полупроводниках (тиристорах и т.п.) и пере
даются с шумом искрящих контактов через силовой трансформатор и другиесоединения виспытательную схему
измерения.
О помехах при испытаниях напряжения постоянного токасм. 11.5.2.
Ж.2 Обнаружение помех
Независящие от напряжения источники помех могут быть обнаружены по показаниям измерительного при
бора. когда испытательная схема отключена от питания и’или когда источник высокого напряжения включен в ис
пытательнуюсхему, а напряжение равно нулю. Показание прибора является меройэтихпомех.
Зависящие от напряжения источники помех могут бытьобнаружены следующим образом: испытуемый объ
ект удаляется или заменяется эквивалентным конденсатором, недающим значительных частичных разрядов при
нормированном испытательном напряжении. Схема должна быть вновь откалибрована всоответствии с методи
кой. указанной в разделе 5. После этогона схему подается полное значение испытательного напряжения.
Если уровень помех превышает 50% амплитуды максимального нормированногодля испытуемого обьекта
разряда, необходимо принять меры для снижения помех.Для этогоможновоспользоватьсяоднимили нескольки
ми методами, описанными выше. Вычитание уровня помехиз значения амплитуды измеренных частичных разря
дов считается неправильнымдействием. Применение осциллографа вкачествеотсчетногоустройства илиоценка
данных ЧР. собранных цифровымметодом, помогают операторуразличатьчастичные разряды виспытуемомобъ
ектеот внешних помех(например, от фонового шума); иногдаэто позволяет определить тип помех или идентифи
цировать типчастичных разрядов. Другиеэлектрическиеинеэлекгрические методы(приложение Е), частоисполь
зуемые для определения места коронногоэффекта на проводниках высокого напряжения или разрядов где-либо
взоне испытания, могутдать независимое подтверждение наличия помех или частичных разрядов в испытуемом
обьекте.
Ж.З Снижение уровня помех
Ж.3.1 Экранирование и фильтрация
Снижения уровня помех можнодостигнуть путем соответствующего заземления всех проводящих конструк
ций. расположенных поблизости от зоныиспытания, в которых, крометого, недолжнобыть резких выбросов, и пу
тем фильтрации напряжения сети питания испытательной и измерительной схем. Значительное снижение уровня
помехможетбытьполучено путемпроведения испытаниявэкранированномпомещении, гдевсе входныеэлектри
ческие соединения осуществляются черезфильтры, подавляющиеэти помехи.
Ж.3.2 Балансные схемы
38