ГОСТ Р 53734.4.8—2012
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Закрытым акционерным обществом «Научно-производственная фирма
«Диполь» (ЗАО «Научно-производственная фирма «Диполь») на основе собственного аутентичного
перевода на русский языкмеждународногостандарта, указанногов пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом постандартизацииТК 072 «Электростатика»
3 УТВЕРЖДЕН ИВВЕДЕН ВДЕЙСТВИЕ ПриказомФедеральногоагентствапотехническому регу
лированию иметрологии от 29 ноября 2012 г.№ 1430-ст
4 Настоящийстандартявляетсямодифицированным по отношениюкмеждународномустандарту
МЭК 61340-4-8:2010 «Электростатика. Часть 4-8. Методы испытаний для прикладных задач. Экраниро
вание разрядов. Пакеты» (IEC61340-4-8:2010 «Electrostatics — Part4-8:Standardtest methodslorspecific
applications — Discharge shielding — Bags»). При этом в него не включены ссылки на региональные и
международные стандарты примененного международного стандарта, которые нецелесообразно при
менять в российской национальной стандартизации в связи с тем. что они не гармонизированы с
национальными стандартами
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8).
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на
1января текущего года) информационномуказателе «Национальные стандарты», а официальный
текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стан
дарты». В случаепересмотра (замены) илиотменынастоящего стандарта соответствующее уве
домление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя
«Национальныестандарты». Соответствующая информация, уведомлениеитексты размещают
ся также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального
агентства по техническомурегулированию и метрологии в сети Интернет (gost.ru)
©Стандартинформ. 2014
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо
му регулированию иметрологии