ГОСТ Р53734.4.7-2012
(МЭК 61340-4-7:2010)
до величины V (100 В), а также вычисленные с помощью уравнения (Б.1) значения
емкости С приведены в таблице Б.1.
Т а б л и ц а Б.1- Пример результатов измерений
V в
Q. нКл С, пФ
100 1.94 19.4
100
2,03 20,3
100 1.98 19,8
100 1.97 19.7
100 1.98 19,8
100 1.99 19.9
100 2.00 20.0
100
1.99 19.9
100 2,00 20,0
100 2,02 20,2
Среднее значение емкости согласно результатам таблицы Б.1 равно 19,9 нФ. стандартное
отклонение - 0,25 пФ.
Б.5 Типичные ошибки
Б.5.1 Испытательное оборудование
Связанную с испытательным оборудованием и наиболее часто возникающую
ошибку можно описать на примере пластины емкостью 10 пФ. заряженной до уровня 80
В, при этом заряд пластины составит 0,8 иКл. Измерение этого уровня заряда
кулонметром, точность которого ± 0,02 иКл, приведет к погрешности 2,5 %. Вместе с
погрешностью источника питания 2 % общая погрешность может достичь 4,5 %. В
подобных случаях рекомендуется использовать испытательное оборудование с большим
разрешением.
Б.5.2 Плохая изоляция пластины
Такие погрешности возникают в случаях, когда связанная с утечкой заряда с
пластины погрешность добавляется к погрешности от испытательного оборудования. Для
обеспечения общей точности измерений более 95 % изоляция пластины не должна
искажать показания более чем на 0,5 %.
Представим ситуацию, когда время между зарядом пластины до уровня V и ее
разрядом составляет 10 с. Можно рассчитать минимальное сопротивление изоляции
пластины, которое не исказит показания более чем на 0,5 %:
(V- V,)/ К < 0,005
для t - Юс.
Принимая во внимание, что разряд пластины происходит по экспоненциальному
закону, получаем:
0.005 = 1- е"*°,
где/ - время, равное 10 с;
С - емкость, равная 20 пФ.
28