ГОСТ IEC 60065—2011
Т а б л и ц а 2 — Испытательный источник питания
Номинальное напряжение питания
постоянного том. В
Номинальное напряженно без нагрузки
постоянного тока. В
Внутреннее сопротивление. Ом
1.5
3.0
4.5
2.25
4.50
6.75
0.75
1.50
2.25
П р и м е ч а н и е — В таблице приведен стандартизованный набор параметров питания, позволяющий
иметь представление о значениях этих параметров для источников питания общего назначения с выходным
напряжением от 1.5 до 12 В и с номинальным выходным током более 1 А.
Параметры для источников питания с напряжением более 12 В и током более 1А находятся на рассмот
рении.
4.2.12
Аппарат, поставляемыйизготовителем сдополнительнымисъемныминожками илипод
ставками
,
испытывают сприкрепленныминожками илиподставками илиже безних.
4.3 Условия неисправности
Испытания аппаратуры в условиях неисправности означают, что. кроме нормальных условий
работы, перечисленных в 4.2. должна быть проведена поочередная (не болев одной за раз) имитация
каждой из указанныхниженеисправностей, а также другихнеисправностей, вытекающихиз предыду
щих.
П р и м е ч а н и е 1 — Логическое следствие условий неисправности те условия, которые возникают при
появлении неисправности.
Цепиили частицепи, питаемые отнапряженияоткрытой цели, не превышающего 35В (пиковое
значение) переменного тока или постоянного тока, и не вырабатывающие напряжения выше этого
значения, не считаютпредставляющимиопасность воспламенения, если ток. которыйможетпроте
кать от питающей цепи в течение более 2 мин прилюбой нагрузке, включаякороткое замыкание, не
достигает более 0.2 А. Цепи с такими параметрами питания не подлежат испытаниям в условиях
неисправности.
Пример испытательнойцепидляизмерения напряжения и токаприведеннарисунке 1.
П р и м е ч а н и я
2 Обследование аппарата и всех его электрических схем, за исключением внутренней структуры интеграль
ных микросхем, как правило, обнаруживает условия неисправностей, которые могут порождать опасность и кото
рые необходимо имитировать. Эти условия должны быть сымитированы последовательно в наиболее удобном
порядке.
3 При проведении обследования в соответствии с примечанием 2 необходимо принимать во внимание
рабочие характеристики интегральных микросхем.
4 Если имеется вероятность влияния на результаты испытаний, то испытания в условиях неисправностей
следует проводить в деревянном коробе для испытаний, указанном в 4.1.4.
Прииспытаниях сымитированнаянеисправность можетвызвать последующую неисправность,
такую какобрывиликороткое замыканиекомпонента. Для подтвержденияпостоянстваполученных
результатов имитация неисправ
1
юстиможет быть повторена одинили два раза сзаменойкомпонен
тов. Если это не подтвердится, то необходимо имитировать самый неблагоприятный режим
неисправности.
4.3.1
Короткое замыкание через зазоры ипутиутечкипризначенияхэтих величин, менее опреде
ляемых вразделе 13для основной и дополнительной изоляции, за исключением изоляциимеждунепос
редственно соединенными с сетью частямиразличнойполярности.
П р и м е ч а н и е — Для зазоров между непосредственно соединенными с сетью частями различной
полярности см. 13.1.
4.3.2
Коротков замыкание через части из изоляционного материала, короткое замыкание, кото
рое может привести к нарушению требований по защите от поражения электрическим током или к
перегреву, за исключениемизолирующихдеталей, которыеудовлетворяют требованиям 10.3.
П р и м е ч а н и е — Изложенное в этом пункте не предусматривает короткого замыкания через изоляцию
между витками обмотки.
16