ГОСТ Р 50030.2—2010
Окончание таблицы J.2
Испы тание
Оборудование,
подвергаемое
испытанию (О П И )
Пункт
И спы тательное
устройство
(рисунок)
С хем а цепи
(рисунок)
Устойчивость к излу-
ченным радиочастот
ным электромагнитным
полям
АВДТ
J.2.3, В.8.12.1.3
J.4
В.1
АВ
J.2.3. F.4.3
F.16, F.17
F.2. F.3 или F.4
МУЦТ
J.2.3. М.8.16.1.3
J.4.M.20
Другие устройства ’ >
J.2.3. N.2.3
2>
М.З
2)
Устойчивость к нано-
секундным импульсным
помехам
АВДТ
J.2.4. В.8.12.1.4
J.5, J.6
В.1
АВ
J.2.4. F.4.4
F.16. F.18. F.19
F.6. F.7 или F.8
МУЦТ
J.2.4. М.8.16.1.4
J.5, J.6, М.21
М.З
Другие устройства1>
J.2.4. N.2.4
2)
2)
Устойчивость к скач-
кам тока/напряжения
АВДТ
J.2.5. В.8.12.1.5
2)
В.1
АВ
J.2.5. F.4.5
Фазозазем
ленная: F.16
Межфазная: F.16
Фазозазем
ленная: F.9, F.10
или F.11
Межфазная: F.12.
F.13 или F.14
м уц т
J.2.5. М.8.16.1.5
2)
М.З
Другие устройства1•
J.2.5, N.2.5
2)
2)
Устойчивость к кон-
дуктивным электромаг
нитным помехам, наве-
денным электромагнит
ными полями
АВДТ
J.2.6. В.8.12.1.6
2)
В.1
АВ
J.2.6. F.4.6
F.16.F.20.F.21.
F.22
F.2. F.3 или F.4
м уц т
J.2.6. М.8.16.1.6
М.22
М.З
Другие устройства
1)
J.2.6. N.2.6
2)
2)
’>Устройства, на которые распространяется действие приложения N.
2) Дополнительных рисунков не требуется.
Для этапа 1 частота должна быть перестроена в рассматриваемых диапазонах частот от 80 до 1000 МГц и
от 1400 до 2000 МГц в соответствии с разделом 8
ГОСТ Р 51317.4.3.
Время задержки несущей амплитудной
модуляции на каждой частоте должно быть от 500 до 1000 мс. величина шага не должна превышать 1 % основной
частоты (т.е. значение частоты каждого последующего шага должно быть меньше или равно значению частоты
предыдущего шага, умноженному на коэффициент 1.01). Фактическое время задержки должно быть указано в
протоколе испытаний.
На этапе 2 для проверки функциональных характеристик испытание необходимо выполнять на каждой из
следующих частот: 80, 100. 120. 180, 240. 320. 480. 640. 960, 1400 и 1920 МГц; срабатывание проверяют после
стабилизации поля на каждой частоте.
J.2.4 Наносекундные импульсные электромагнитные помехи
Испытанию необходимо подвергать ОПИ в специальной оболочке (см. таблицу J.1).
Испытательное устройство приведено в таблице J.2.
Для силовых и вспомогательных входных портов должна быть использована согласующая сеть, за исключе
нием приложения F, где должен быть применен метод прямой подпитки (см. рисунок F.18).
Для сигнальных портов согласующее устройство или метод подпитки используют по применимости. Если не
указано иное, помеху прикладывают в течение 1 мин.
J.2.5 Скачки тока/напряжения
Испытание необходимо проводить на ОПИ в специальной оболочке (см. таблицу J.1). Уровни испытаний и
испытательные устройства приведены в таблицах J.1 и J.2 в зависимости от вида ОПИ.
Прикладывают импульсы обоих полярностей, фазовые углы составляют 0* и 90".
Для каждой полярности и с каждым фазовым углом прикладывают серию из пяти импульсов (всего 20);
интервал между двумя импульсами — приблизительно 1 мин. По соглашению с изготовителем интервал может
быть короче.
J.2.6 Кондуктивиые электромагнитные помехи, наведенные радиочастотными полями (общий тип)
ОПИ необходимо испытывать без оболочки (см. таблицу J.1) с дополнительными требованиями по
таблице J.2.
94