ГОСТ Р МЭК 60384-14—2004
указанных в ТУ на ККТ. или по требованию покупателя. После испытания на срок службы требуются
данные об изменении емкости и сопротивления (для RC-сборок), а также данные о значении тангенса
угла потерь и сопротивления изоляции.
3.4Испытания для утверждения соответствия конденсаторов требованиям ТУ на ККТ
3.4.1 Утверждение соответствия конденсаторов требованиям ТУ на ККТ национальными испыта
тельными станциями
Таблицы II и IV представляют собой программу испытаний, включающую только испытания,
связанные с требованиями безопасности. Этой программой должны пользоваться национальные испы
тательные станции. Испытания на основе выборки заданного объема проводят в соответствии с усло
виями 3.4.3.
3.4.2 Утверждение соответствия конденсаторов требованиям ТУ на ККТ в рамках ССЭК МЭК*
В случаях, когда требуется утверждение соответствия конденсаторов требованиям ТУ на ККТ,
разработанных в соответствии с правилами ССЭК МЭК. следует пользоваться таблицами III и V; эти
таблицы включают как испытания по безопасности, так и испытания характеристик.
Порядок проведения испытаний для утверждения соответствия конденсаторов требованиям ТУ на
ККТ приведен в пункте 3.5 МЭК 60384-1. Программы испытаний, которые необходимо применять при
проведении утверждения соответствия на основе испытаний по партиям и периодических испытаний в
соответствии с пунктом 3.5.3а) МЭК 60384-1. приведены в 3.5 и таблицах VIA и VIB настоящего стан
дарта. Программа испытаний, которую необходимо использовать при проведении утверждения
соответ ствия на основе испытаний на выборке заданного объема в соответствии с пунктом 3.5.3Ь) МЭК
60384-1, приведена в 3.4.3 и таблице III настоящего стандарта. Для обоих способов объемы выборок и
допусти мое число дефектных образцов должны быть сопоставимы. Условия испытаний и требования
должны быть одинаковыми. Утверждение соответствия конденсаторов требованиям ТУ на ККТ на
основе испы таний на выборке заданного объема в соответствии с таблицей III является
предпочтительным.
3.4.3 Утверждение соответствия на основе испытаний на выборке заданного объема
3.4.3.1 Формирование выборки
Конденсаторы, изготовленные по каждой отдельной технологии, на каждое номинальное напряже
ние. каждого класса и подкласса следует оценивать отдельно. Общее число конденсаторов на каждое
номинальное напряжение в каждой группе указано в таблицах II и III. Для многосекционных конденсато
ров. включающих секции разных классов, и для проходных конденсаторов требуется большее число
конденсаторов.
Выборка должна содержать равное число образцов, имеющих как наибольшее, так и наименьшее
значения емкости из совокупности, для которой требуется проведение аттестации, исключая испытания на
пассивную воспламеняемость по 4.17 и активную воспламеняемость по 4.18. При формировании
выборки для проверки пассивной воспламеняемости необходимо следовать правилам, установленным
примечанием 4 к таблице II. примечанием 4 к таблице III и пунктом 4.17. При формировании выборки для
проверки активной воспламеняемости необходимо следовать правилам, установленным примеча нием
7 к таблице II. примечанием 10 к таблице III и пунктом 4.18. При наличии только одного значения емкости
следует испытывать общее число конденсаторов, установленное таблицами II и III.
Допускается следующее число дополнительных образцов:
a) один на значение емкости, который можно использовать для замены допускаемого дефектного
образца в группе 0;
b
) остальные дополнительные образцы могут потребоваться, если будет необходимо повторить
какое-либо испытание в соответствии с условием, установленным примечанием 6 к таблице II и приме
чанием 7 к таблице III.
В группе 0 указывают число образцов, которое необходимо, если проводят испытания всех групп.
Если это не так. то число образцов может быть соответственно уменьшено.
Если в программу испытаний для проведения утверждения соответствия включены дополнитель
ные группы испытаний, то число образцов для группы 0 следует увеличить на то же число образцов,
которое требуется для дополнительных групп.
В таблицах II и III приведено число образцов, подлежащих испытанию в каждой группе или
подгруппе, вместе с допустимым числом дефектных образцов при испытаниях по каждой группе или
подгруппе.
"ССЭК МЭК — система сертификации электронных компонентов МЭК.
9