ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-5—2010
5.2.2 Порядок проведения измерений
Испытуемую картупомещают плашмя на координатный столик оптической зоной наверх.
Наблюдая через окуляр микроскопа, перемещают координатный столик так. чтобы можно было
видетьбазовую дорожку влевой части карты (см. рисунок3). Регулируют координатный столик так. что
бы точка пересечения координатных осей в окуляре совпала с базовой дорожкой. Затем регистрируют
значения (Х0, У0) координатх, у.
После этого перемещают столик в направлении оси у так. чтобы видеть нижнюю кромку карты.
Регулируютстолики регистрируют значения (Х0, У2)координатх, у аналогичным образом.
Затем перемещают столик так. чтобы видеть базовую дорожку в правой части карты, регулируют
столик ирегистрируют значения (X,, У,). При этом значение |Х0- Х,|должно быть не менее 60 мм.
После этого перемещают столик в направлении оси у так. чтобы видеть нижнюю кромку карты,
регулируютстолики регистрируют значения (X,. У3).
Наклон вычисляют по следующей формуле
наклон = mod[arctg{(yi - y0y(Xi - Хэ)} - arctg{(y3- Y2)/(X
i
- Хо)}].
5.2.3 Правила оформления результатов измерений
Протокол испытанийдолжен содержатьзначения измеренногоугла.
5.3 Дефекты
Цель испытания — измерениедефектов испытуемого образца карты (см. ИСО/МЭК 11694-3).
5.3.1 Средство измерений
Дефекты оптическойзоны следует измерять с помощью оптического микроскопа.
5.3.2 Порядок проведения измерений
В оптическом слое оптической зоны определяют число дефектов, размер которых в поперечном
сечении более 2.5 мкм, и вычисляют суммарную площадь этих дефектов. Делят ее на площадь всей
оптической зоны иполучаютплотностьдефектов в виде коэффициента неустранимыхсырьевыхдефек
тов в пределахоптической зоны.
В прозрачномслоеоптическойзоныопределяютналичиедефектов, размер которых впоперечном
сечении более 100 мкм.
5.3.3 Правила оформления результатов измерений
Протокол испытанийдолженсодержатьплотностьдефектов в оптическом слоеоптическойзоны, а
также заключение о наличии дефектов в прозрачном слое.
5.4Оптические свойства запоминающей среды
5.4.1 Средства испытаний картс оптической памятью
5.4.1.1 Испытательное оборудованиедля карт с оптической памятью, соответствующих требова
ниям приложения В ИСО/МЭК 11694-4:2001
4