ГОСТ Р 53623—2009
Приложение В
(рекомендуемое)
Методы испытаний средств вычислительной техники и программных средств
Т а б л и ц а В.1 — Методы испытаний устройств БК ПЭВМ на соответствие требованиям, представленным в таб
лице А.1 приложения А
устройства
Наименование характеристики
Метод испытаний
Поддержка частоты работы установленного ЦП
С помощью ИДП
Микропроцессорный
набор
Поддержка режима энергосбережения
Проверка перехода ПЭВМ а ре
жим энергосбережения
Пропускная способность шины расширения
С помощью ИДП
Поддержка объема памяти
С помощью ИДП
Частота системной шины
С помощью ИДП
Поддержка работы процессора во многоядер
ном режиме (при наличии у процессора нескольких
ядер)
С помощью ИДП
Поддержка режима автоматического обнаруже
ния нового устройства
С помощью ИДП
ЦП
Частота
С помощью ИДП
Множество команд
По ЭД
Частота шины данных
С помощью ИДП
Объем кэш-памяти
С помощью ИДП
БСВВ
Технология реализации носителя информации
С помощью ИДП
Поддержка режима задания и снятия пароля
доступа к настройке БСВВ и системе а целом
Проверить установку и снятие па
ролей
Поддержка режимов автоматического обнару
жения нового оборудования и экономии энергии
Подключение нового оборудова
ния и проверка его автоматичес
кого обнаружения и перехода
ПЭВМ в режим энергосбереже
ния
о пТип памяти
С помощью ИДП
Частота работы
С помощью ИДП
Объем установленной памяти
С помощью ИДП
Рекомендации по выбору модулей расширения
Рекомендации по выбору моду
ОПлей приведены в ЭД
Количество свободных разъемов для модулейНепосредственный осмотр
функционального расширения
РФРКоличество свободных разъемов для платНепосредственный осмотр
Пропускная способность
С помощью ИДП
Подсистема НЖМДКоличество подключаемых накопителей
С помощью ИДП
Поддержка режима автоопределения
Подключение нового оборудова
ния и проверка его автоматичес
кого обнаружения
Соответствие интерфейсов накопителя и кон
троллера на системной плате СБ
Непосредственный осмотр
Объем доступной памяти на дисках
С помощью ИДП
24