ГОСТ Р 51318.16.2.3— 2009
7.3.6.5.1 Метод 1 — измерение уровня радиопомех
Измерение проводят всоответствии со следующей процедурой.
1) Устанавливают ширину полосы разрешения анализатора спектра и ширину видеополосы всоот
ветствии с
ГОСТ Р 51318.16.1.1
(для измерений на частотах свыше 1 ГГц).
2) Определяют частоты, на которых уровни ИРП являются максимальными. Это можно определить,
используя функциюфиксации максимума в рассматриваемой полосе частот. При этой процедуре применя
ют пиковоедетектирование.
П р и м е ч а н и е — Если узкополосные ИРП маскируются широкополосными, то при использовании
режима фиксации максимума в комбинации с пиковым детектированием узкополосные ИРП могут быть пропу
щены. Поэтому для определения частот, на которых должны измеряться узкополосные радиопомехи, может
потребоваться дополнительное измерение. Технический комитет, разрабатывающий стандарты на продукцию,
может потребовать наличия дополнительных разверток с использованием детектора средних значений или
цифрового усреднения видеосигнала. Помимо этого, технический комитет, разрабатывающий стандарты на про
дукцию. также может установить число частот для определения функции распределения амплитуд ИРП.
3)Определяют частоты для измерений. Числочастот устанавливает технический комитет, разрабаты
вающий стандарты на продукцию.
4) Устанавливают вкачестве центральной частоты анализатора спектра частоту, на которой наблюда
ется самый высокий уровень ИРП при выполнении шага 2) данной процедуры.
5) Устанавливают опорный уровеньанализатора спектра, по крайней мере, на 5 дБ выше максималь
ного уровня ИРП. отмеченного в шаге 2).
6) Устанавливают анализатор спектра в режим нулевого сканирования частоты и определяют функ
цию распределения ИРП втечение времени, установленного техническим комитетом, разрабатывающим
стандарты на продукцию. Время измерения должно быть больше периода помех. В случае
флюктуаций
значений частоты ИРП технический комитет, разрабатывающий стандарты на продукцию, должен указать
частотную область
XX,
МГц. в пределах которой следует измерять функцию распределения амплитуд (шаг
изменения частоты 1 МГц). На частотах, где значения, полученные при измерении функции распределения
амплитуд, приблизительно на 6 дБ ниже нормы, могут потребоваться дополнительные измерения с мень
шим шагом частоты (например. 0,5 МГц).
7) Изменяют центральную частоту анализатора спектра на следующую частоту, определенную при
выполнении шага 2). и повторяют шаги 4) — 6) для измерения функции распределения амплитуд ИРП на
всех частотах.
8) Определяют уровень ИРП
Emaai,
дБ (1 мкВ/м), относительно указанной вероятности
рта
по резуль
татам шага 6).
9) Сравнивают
Етааз,
дБ(1 мкВ/м). с нормой
ЕЛта,
дБ (1 мкВ/м). Если на всех частотах
Emoas
не
превышает £lVnA„ испытуемое ТС соответствует нормам ИРП.
7.3.6.5.2 Метод 2 — измерение вероятности превышения нормированного уровня
Измерение проводят всоответствии со следующей процедурой.
Шаги 1) — 5) и 7) данного метода соответствуют соответствующим шагам метода 1 (см. 7.3.6.5.1).
Шаг 6) метода 2 будет следующим. Устанавливают анализатор спектра в режим нулевого сканиро
вания частоты и определяют функцию распределения амплитуд ИРП (или измеряют вероятность
pmcai
относительно указанных уровней) за время измерения, которое должно быть установлено техническим
комитетом, разрабатывающим стандарты на продукцию.
8) Рассчитывают вероятности
pmoai
превышения огибающей ИРП уровня £ Vmil, дБ (1 мкВ/м). по ре
зультатам шага 6).
9) Сравнивают
ртм
с предельным значением рЛЙЛ*. Если на всех частотах
pmaas
не превышает
ршв,
испытуемое ТС соответствует нормам ИРП.
7.4 Измерения методом замещения в полосе частот от 30 МГц до 18 ГГц
Данный метод предназначен для измерения ИРП, излучаемых от корпуса ИТС. включая присоединя
емые провода и провода внутри корпуса. Испытуемое ТС может быть автономным устройством, не имею
щим портов для какого-либо подключения либо имеющим один или несколько портов для подключения
кабелей питания и других внешних соединений.
В настоящее время метод замещения используют для измерения ИРП от микроволновых печей в
полосе частот от 1до 18 ГГц. При разработке будущих стандартов, распространяющихся на продукцию,
техническим комитетам по стандартизации предлагается использовать метод измерения напряженности
поля ИРП в соответствии с 7.3.
33