ГОСТ Р 53173—2008
Т а б л и ц а !
Наименование сита
Полные остатки на сите. %
0 -2
0 - 10
От N, до N,
Верхнее предохранительное
Верхнее номинальное
Промежуточное
Нижнее номинальное
95 - 100
Отношение размеров ячеексоседних сит недолжно превышать 1,5.
4.4.3 Подготовка образца
4.4.3.1 Отбор пробы представительногообразца МСШ —по4.1.3.
4.4.4 Порядок определения гранулометрического состава МСШ
4.4.4.1 Размеры сит. необходимыедля определения гранулометрического состава МСШ. выбирают
исходя изтребований таблицы 1.
4.4.4.2 Рассев пробы МСШ навыбранных ситах проводят механическим или ручным способом. Про
должительность просеивания должнабытьтакой, чтобы при контрольном интенсивном ручном встряхива
нии каждого сита в течение 1 мин., через него проходило не более 0.1 % общей массы просеиваемой
навески.
При механическом просеивании его продолжительность для применяемого прибора устанавливают
опытным путем.
При ручном просеивании допускается определять окончание просеивания, интенсивно встряхивая
каждоесито над листом бумаги.
Просеивание считают законченным, если при этом практически не наблюдается падение МСШ.
4.4.4.3 После окончания рассева определяют частные остатки в граммах, затем в процентах, азатем
полные остатки накаждом сите в процентах.
4.5Определение содержания дефектных МСШ и инородных частиц на соответствие значе
ниям. приведенным в таблице 1
4.5.1 Сущность метода заключается в подсчете дефектных МСШ иинородных частиц в процентах от
общей массы.
4.5.2 Применяемая аппаратура и реактивы:
- микроскоп с минимальным 10-кратным увеличением;
-стеклянные пластины шириной 25 мм:
- прозрачная клейкая лента шириной 20 мм.
4.5.3 Порядок определения
4.5.3.1 Дефектные МСШ и инородные частицы определяют для каждой фракции МСШ (для каждого
частного остатка) в соответствии с4.5.4.
4.5.3.2 Минимальное число МСШ, подлежащихоценке, составляет 600 шт.
4.5.3.3 Дефектные МСШ и инородные частицы определяют визуально с помощью микроскопа или
электронных фотоснимков.
4.5.3.4 Исследованиям подлежаттолько те шарики, которые полностью видны при использовании
микроскопа или полностью зафиксированы нафотоснимке.
4.5.3.5 Для каждого МСШ фиксируют толькоодин дефект. Перечень дефектов приведен в приложе
нии А.
4.5.4 Обработка результатов
4.5.4.1Содержание дефектных МСШ W.%, вычисляют какотношениедефектныхМСШ кобщей мас
се МСШ поформуле
W =
Му+Мг +Мп
где М — частный остатокотобщей массы на каждом из п сит. %:
D — количестводефектных МСШ. отобранныхс каждого из п сит, %.
4.5.4.2Содержание инородныхчастиц в МСШ определяют какотношение инородныхчастиц к сумме
всех испытанных МСШ. выраженное в процентах.
3