ГОСТ Р 53696—2009
2.2.25 метод фотоэлектрического оптического излучения; метод фотоэлектрического излучения;
Метод оптического неразрушающегоконтроля, основанный наанализе параметров фотоэлектрическо
го эффекта, возникающего приоблученииобъекта контроля оптическим излучением.
2.2.26 метод спекл-интерферометрии оптического излучения; метод спекл-интерферометрии:
Методоптическогонеразрушающегоконтроля, основанныйна использовании пространственной корре
ляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучениядля получения интерференцион
ных топограмм объекта контроля.
2.2.27 метод спокл-структур оптического излучения; метод спекл-структур: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный наанализе слекл-структур. образующихся при отражении коге
рентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.
2.2.28 метод муаровых полос: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анали
зе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.
2.2.29 фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия; фотоимпульсный
метод; Методоптического неразрушающегоконтроля, основанный на измерениидлительностиимпуль
сов оптического излучения, пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получае
мыхс помощьюсканирования его изображения.
2.2.30 фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия; фотокомпен-
сационный метод: Методоптического неразрушающегоконтроля, основанный наизмерении изменений
интенсивности оптического излучения, вызванныхотклонением геометрических размеров объекта кон
троля от контрольного образца.
2.2.31 фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия; фотоследящий метод:
Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследя
щего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеровобъекта контроля.
2.2.32 голографический метод оптического неразрушающего контроляголографический
метод: —
2.3 Средства оптического неразрушающего контроля
2.3.1 прибор неразрушающего контроля оптический: Система, состоящая из осветительных, опти
ческих и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для
оптического неразрушающего контроля.
П р и м е ч а н и е — При наличии у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологичес
ких характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора.
2.3.2 источник излучения прибора оптического неразрушающого контроля; источник излучения:
Частьприбораоптического неразрушающегоконтроля, предназначеннаядля облученияили освещения
объекта контроля.
2.3.3 оптическая система: Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная
для формирования пучковоптического излучения, несущих информацию обобъекте контроля.
2.3.4 приемноеустройство: Частьприбораоптическогонеразрушающегоконтроля, предназначенная
для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения после его взаимодей
ствия собъектом контроля.
П р и м е ч а н и е — В зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и дру
гие приемные устройства.
2.3.5 оптический дефектоскоп: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный
для обнаружения несплошностей инеоднородностей материалови изделий.
2.3.6 лазерный эллипсометр: Прибор оптического иеразрушающего контроля, предназначенный для
измерения толщины и(или) показателя преломления прозрачных пленокполяризационным методом
2.3.7 оптический структуроскоп: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный
для анализа структуры и (или) физико-химическихсвойств материалов и изделий.
2.3.8 оптический толщиномер: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный
для измерения толщины объектов контроляи (или) глубины залеганиядефектов.
2.4 Освещение объекта контроля
2.4.1 световое сечение: Освещениеобъекта контроля плоскимпучкомсветадля полученияизображе
ния его рельефа.
3