ГОСТ Р ИСО 24497-1—2009
П р и м е ч а н и е — Критический размер оболочки на поверхности изделия характери
зуется расстоянием между двумя ближайшими экстремальными значениями СМПР,
кратными типоразмеру оболочки.
2.6 напряженность СМПР: Числовая характеристика напряженности магнит
ного поля рассеяния, измереннойна поверхности изделияпо методумагнитной
памяти металла.
2.7 градиент СМПР: Отношение модуля разности напряженности магнитного
полярассеяния, измереннойв двухточкахконтроля, красстоянию междуними.
2.8 магнитный показатель деформационной способности металла т:
Отношение максимальногозначения градиента СМПР к среднему значению.
2.9 предельный магнитный показатель деформационной способности
металла т пр: Отношение максимального значения градиента СМПР. соответ
ствующего пределупрочности металла, ксреднемузначению градиента СМПР.
соответствующемупределутекучести металла.
2.10 канал измерений СМПР: Напряженность СМПР. измеренная одним фер-
розондовым преобразователем.
2.11 базовое расстояние между двумя каналами измерений СМПР /6: Рас
стояние между двумя каналами измерений СМПР. устанавливаемое при
настройкедатчика.
2.12 диаграмма СМПР: Графическое изображение распределения СМПР и
его градиента вдоль контролируемого участка.
2.13 дискретность записи напряженности СМПР: Расстояние между двумя
соседними точками измерений напряженности магнитного поля рассеяния.
2.14 калибровка аппаратуры, применяемой для измерений магнитной
памяти металла: Настройка датчиков измерения магнитного поля рассеяния с
использованием эталонной катушки и устройства, чувствительного к измене
нию пространственного положения, с использованием эталонного образца для
измерения длины.
2.15 установка режима работы аппаратуры по методу МПМ: Настройка
аппаратуры, описанная в руководстве по эксплуатации, в соответствии с глав
ным меню прибора.
2.16 помехи при измерениях по методу МПМ: Наличие факторов, искажаю
щих СМПР объекта контроля.
en SMLF intensity
en SMLFgradient
en Magnetic index of
thedeformation capa
bility ofthe metal
en Limiting value m,jm
of the magnetic index
ofthe metal deforma
tioncapability
en SMLF measure
ment channel
enBasedistance
between two SMLF
measurement
channels
en SMLF diagram
en Discretenessunit of
the SMLF intensity
recording
en Calibration of the
equipment used to
measure the metal
magnetic memory
en Setting ofequip
mentoperational
mode by the МММ
method
en Interference noise
during measurements
by the МММ method
П р и м е ч а н и е — Факторы, искажающие СМПР объекта контроля:
- источники сильного и неоднородного магнитного поля вблизи объекта контроля;
- наличие постороннего ферромагнитного изделия на объекте контроля или вблизи зоны
контроля;
- наличие внешнего магнитного поля и поля от электросварки на объекте контроля;
- наличие локальной искусственной намагниченности металла.
2