С. 12 ГОСТ 6433.4—71
3 ИЗМЕРЕНИЕ
3.1. С ущ ностьизмерения
3.1.1. Конденсатор Сх, образованный с помощью испытывае
мого изоляционного материала, можно заменить конденсатором
без потерь с омическим сопротивлением, соединеннымипоследо
вательно Cs, Rs (черт. 6) или параллельной СР, RP (черт. 7).
- J
Черт. 6Черт. 7
Сущностью измерения является определение величин CSt Rs,
С0 и Rp и измерение или вычисление емкости Со. Тангенс угла
диэлектрических потерьдля соответствующих схем замещения
вычисляют по формуле
ioCyR>
схем
где о)— угловая частота.
Между компонентами последовательной и параллельной
замещения имеют место следующие соотношения:
г
__
.
1+»в*б
iga6
R ,.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
3.1.2.Диэлектрическую проницаемость изоляционного материа
ла е вычисляют из измеренных величин но формуле:
»
~
с==
С0
=
с0 ’ TRiFT •
В соответствии с примененной схемой измерения получаемые
значения емкости испытываемого изоляционного материала будут
соответствовать последовательной или параллельной схемам за
мещения.
3.2. Т р е б о в а н и якизмерительнойустановке
3.2.1.Тангенс угла диэлектрических потерь и диэлектрическую
проницаемость определяют с помощью таких установок, которые
позволяют осуществлять измерение любыми методами при усло
вии, что величины погрешности при измерении не будут превы
шать указанных в п. 3.2.2.
64