УДК 621.382.2.019:006.354Группа Э29
М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы ЙС Т А Н Д А Р Т
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
ГОСТ
Метод намерения времени обратного
восстановления
18986.8-73
Semiconductor diodes. Method for measuring
reverce recovery time
МКС 31.080.10
Дата введения 01.01.75
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямитель
ные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления.
Общие требования при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 18986.0.
Требования разд. 4 настоящего стандарта являются обязательными, другие требования
настоящего стандарта являются рекомендуемыми.
(Измененная редакция. Изм. № 1. 2).
1. УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЙ
1.1. Температура окружающей среды при измерении должна быть в пределах (25±5) *С.
1.2. Прямой гок. обратное напряжение или обратный ток. при которых измеряют время
обратного восстановления диода, должны соответствовать установленным в стандартах или тех
нических условиях на диоды конкретных типов.
1.1, 1.2. (Измененная редакция, Изм. № 1).
1.3. 1.4. (Исключены. Изм. № I).
2. АППАРАТУРА
2.1. Принципиальная электрическая схема измерения времени обратного восстановления
должна соответствовать указанной на черт. 1.
2.2.От генератора 01 через измеряемый диод
VD
и входное сопротивлениеизмерительного
устройства
Р
подают постоянный или импульсный
прямой ток в течение времени,достаточного для
установления в измеряемом диоде неравновесных
носителейзаряда, соответствующего протекающему
току.
Затем от генератора
G2
подают импульс обратного
напряжения, запирающий измеряемый диод (при им
пульсном прямом токе допускается подача постоянно го
обратного напряжения).
С ! — генератор прям ою тока с выходным
сопротивлением Я1И<| ; <72 - генератор импуль
са обратною напряжения с выгодным совратив
.темней
Яшхг
, .VI .
Х2
- выводы:
VD
- измеря
емый анод:
Р —
и.(мерительное устройство с
входным сопротивлением Лв ;
В
- точка земли
Перепечатка воспрещена
Издание официальное
★
£> Издательство стандартов. 1973
&
ИПК Издательство стандартов. 2004