Стр. 10 ГОСТ 20424—42
2. Толщину материала, не приведенного в табл. 3 и 7 настоящего стан
дарта и подвергаемого просвечиванию излучением радиоактивных источников,
следует определять по формуле
где d и о — толщина и плотность материала, нс приведенного в табл. 3 и 7,
соответственно;
dr и От — толщина и плотность материала, приведенного в табл 3 и 7, соот
ветственно.
3. В формулах (1) и (4) в качестве d. следует использовать толщину та кого
материала, выбранного но табл. 2—7, средний атомный номер которого является
ближайшим к среднему атомному номеру материала объекта контроля
или, в случае сложных веществ, к атомному номеру химического элемента, мас
совая дач я хоторого является основной.
4. Линейный коэффициент ослаблении для сложных веществ следует опре
делять по формуле
.
где pj. р*. . . . Цп — линейные коэффициенты ослабления излучения I, 2-м
.......
•п-м элементом, входящим в состав сложного вещества.
Ci.
9
г. - • • Рп — плотность 1, 2-го........я-го элемента, входящего а состав
сложного вещества;
*|i. Пт. - - • Пп — относительная массовая дачя I, 2-го,.. . п-го элемента,
входящего в состав сложного вещества.
О- плотность сложного вещества.
(4)
(5)