с.
8 ГОСТ «645.323-88
по методу наименьших квадратов, определяют коэффициенты
а
и
b
в
фор
муле (4) и вычисляют прогнозируемое среднее значение радиационной
удельной о бьемной электропроводимости ог при радиационном или ком
бинированном радиационном воздействии на ПМ с мощностью поглощен-
мой дозы D’.
При необходимости рассчитывают нижний доверительный Y и нижний
толерантный Yp у пределы при заданных значениях вероятности Рбезотказ
ной работы ПМ и доверительной вероятности у.
Метод применяют, если можно представить логарифмическую зависи
мость в виде прямой линии вплоть до достижении /)’. Адекватность модели
экспериментальным данным устанавливают с помощью метода, изложенно
го в приложении 2.
2.4.4. Алгоритм расчета Л и Ь- У. Урл приведен в приложении 2.
Описание и текст программы расчета А и Ь. У. Урл на языке
FORTRAN-4 приведены в приложениях 3 и 4.
Пример обработки экспериментальных данных по дайной программе
для точки прогноза />’ ~ 205 Гр/с с варьированием значений D в интервале
от 0.11 до 1,10 Гр/с, Р - в ннтерви с от 0.80 до 0,95 и у - от 0,80 до 0,95
приведен в приложении 5.
2.4.5. Для приближенной оценки Ор допускается использование метода
определения коэффициентов А н Ь в уравнении (4) в соответствии с при
ложением 6.
2.4.6. Результаты прогнозирования и приближенной оценки Ор оформ-
лЯют протоколом в соответствии с приложением 1.
2.5.М е т о др а д и а ц и о н н ы хи с п ы т а н и йд л яо п р е
д е л е н и и т а н г е н с а у г л а д и э л е к т р и ч е с к и х п о т е р ь
и д и э л е к т р и ч е с к о йп р о н и ц а е м о с т ип о л и м е р н ы х
м а т е р и а л о ввп р о ц е с с ер а д и а ц и о н н о г оили
к о м б и н и р о в а н н о г о р а д и а ц и о н н о г о в о з д е й с т в и я
2.5.1.Метод заключается в том. что твердые образцы ПМ подвергаю
воздействию непрерывного ионизирующего излучения в вакууме или га
зовой среде при заданных в ТЗ мощностях поглощенной дозы, температу
ре и частоте электрического тока или ряде их значений и определяют тан
генс угла диэлектрических потерь ig6 и диэлектрическую проницаемость с’
о процессе указанного воздействия.
Метод распространяется на частоты 50, Ю5 -- 104 Ги (низкочастотный
диапазон) и 9 10* • 10’° Ги (диапазон СВЧ).
2.5 2. Требования к образцам
2.5.2.1 Для испытаний в низкочастотном диапазоне образцы изготов
ляют в виде диск? диаметром 50 мм и толщиной от 0.02 до 2,00 мм
Для испытаний в диапазоне СВЧ образцы изготовляют в форме пласти
ны длиной 30 мм, шириной от 9,08 до 10.00 мм и толщиной от 0,2 до
1,0 мм.
Неравномерное!г по толщине образца должна быть не более 5 • 10 * мм.
Максимальную толщину образцов выбирают с учетом требований
и. 2.3.2.1.