Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ 14644-86; Страница 4

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 18604.27-86 Транзисторы биполярные мощные высоковольтные. Метод измерения пробивного напряжения коллектор-база (эмиттер-база) при нулевом токе эмиттера (коллектора) Power high-voltage bipolar transistors. Collector-base (emitter-base) breakdown voltage measurement at emitter (collector) cut-off current (Настоящий стандарт распространяется на мощные высоковольтные биполярные транзисторы и устанавливает метод измерения пробивного напряжения коллектор-база и эмиттер-база с использованием источника напряжения) ГОСТ 31.1066.01-85 Приспособления к металлорежущим станкам. Оправки центровые переналаживаемые с гофрированными втулками для точных работ. Основные параметры и размеры Attachments for metall-cutting machine tools. Central readjustable mandrels with corrugated bushings for precision machining. Basic parameters and dimensions (Настоящий стандарт распространяется на центровые переналаживаемые оправки с гофрированными втулками, предназначенные для установки заготовок, в основном тонкостенных, типа колец, втулок, гильз с цилиндрическим базовым отверстием при точной обработке их на металлорежущих станках) ГОСТ 27146-86 Антиген для выявления инфекционного эпидидимита баранов, вызываемого Бруцеллой овис. Технические требования и методы испытаний Antigene revealing infections sheep's epididymitis caused by Brucella ovis. Technical requirements and test methods (Настоящий стандарт распространяется на антиген, предназначенный для диагностики инфекционного заболевания овец, вызываемого Бруцеллой овис, методом реакции длительного связывания комплемента (РДСК))
Страница 4
Страница 1 Untitled document
Стр. 2 ГОСТ 146*4 84
1.1.2. Количество образцов для испытания должно быть уста
новлено в нормативно-технической или технической документации
на конкретные виды изделии или покрытий, но не менее грех, раз
мер контролируемой поверхности должен быть 100x100 мм.
1.2. Аппаратура
Микроскоп отсчетный типа МПБ-2 с объективом 2x 0,085.
Станок сверлильный одношлиндельный вертикальный «о ГОСТ
12436—77 или другое оборудование, обеспечивающее вертикаль
ное перемещение шпинделя к контролируемой поверхности по
крытия.
Сверла спиральные, оснащенные пластинками из твердого
сплава, по ГОСТ 22735—77 илиГОСТ 2273677 диаметром
10—12 мм с углом при вершине между главными режущими
кромками 2ф. равпым 150^.
Осветитель, создающий на участке измерения контролируемой
поверхности освещенность не ниже 300 лк.
Угломер оптический по ГОСТ М197—73.
1.3. Подготовка к испытанию
1.3.1. Угломеромизмеряют угол
ф
между осью сверлаи
каждой главной режущей кромкой с погрешностьюЗа
результат измерения принимают наибольшее значение угла ф.
1.3.2. На каждом образце в его центре сверлят покрытие до
появления лунки, включающей срез покрытия и древесины или
древесного материала, на котором сформировано похрытие.
Видимый диаметр высверленной лунки древесины или древес
ного материала должен быть не более 2 мм.
На поверхность среза наносят раствор контрастного красителя
и выбирают участок с невыкрошнвшимися краями среза по
крытия.
1.4. Проведение испытания
1.4.1.Микроскоп устанавливают над лункой такимобразом,
чтобы обеспечивался боковой естественныйилиискусственный
подсвет и в поле зрения микроскопа наблюдалась горизонтальная
проекция одной стороны лунки (см. черт. 1). Наблюдаемая часть
лунки должна располагаться в центре поля зрения и не должна
выходить за пределы измерительной шкалы микроскопа.
Микроскоп настраивают на резкое изображение измеритель
ной шкалы и контролируемого среза покрытия.
1-4.2. Поворотом тубуса микроскопа устанавливаютизмери
тельную шкалу так, чтобы ось шкалы проходила через центр лун ки.
а деления шкалы были параллельны касательным к окруж ностям
конической лунки (см. черт. 1). Одно из делений шкалы
совмещают с границей большего диаметра лунки. От этого деле
ния до меньшего диаметра лункн отсчитывают количество деле
ний шкалы с погрешностью ±0,025 мм н записывают отсчет
Lx
а
протокол (см. рекомендуемое приложение 2).