ГОСТ Р 25645.335-94
ПРИЛОЖЕНИЕ Б
(справочное)
Расчет удельных характеристик для эллиптических орбит
Исходными данными для приближенной опенки значений удельных характеристик
вторичного гамма-излучения для эллиптических орбит являются:
— параметры орбиты (высота апогея //„ км; высота перигея //„. км; угол наклона
орбиты /, .; угловое расстояние перигея);
—диапазон энергий гамма-квантов, МэВ;
—время нахождения на орбитесуг;
—материал корпуса, оборудования или защиты;
—толщина материала, см.
1 Определить значения плотности потока вторичного гамма-излучения
J
и мощ
ности поглощенной дозы излучения Дна круговой орбите с высотой
II
= 400 км и углом
наклона /=5Г для заданного материала заданной толщины, времени нахождения на ор
бите и диапазона энергий с использованием таблиц 2—18.
2 Вычислить значения /и Дна заданной эллиптической орбите но формулам:
J
= /нхАГ,хАГ:х *1/9,0 £-05;
Д = Днх *, х * х *;/9,0 £-05,
где /* и Дв — значения плотности потока и мощности дозы вторичного гамма-излу
чения дтя
Н=
400 км и /=5Г соответственно,*г, АГ; —траекторные коэффициенты.
Значения траекторных коэффициентов для эллиптической орбиты с заданными
параметрами определяют по рисункам Б.1—Б.4.
21