Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 23.12.2024 по 29.12.2024
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ 25968-83; Страница 6

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 23380-83 Столы ученические и для учителя. Методы испытаний Desks and tables for teachers. Test methods (Настоящий стандарт распространяется на ученические столы и столы для учителя и устанавливает методы их испытания на устойчивость, прочность, жесткость и долговечность. Стандарт не распространяется на столы: ученические лабораторные, демонстрационные ученические для черчения и рисования, ученические для кабинетов иностранного языка) ГОСТ 3836-83 Сталь электротехническая нелегированная тонколистовая и ленты. Технические условия Electrotechnical unalloyed steel thin sheet and bands. Specifications (Настоящий стандарт распространяется на электротехническую нелегированную, горячекатаную и холоднокатаную тонколистовую сталь и ленты, применяемые в магнитных цепях электрических аппаратов и приборов ) ГОСТ 8837-83 Материалы текстильные. Методы определения вязкости растворов целлюлозы Linen, semilinen and cotton textiles. Methods for the determination of cellulose solution viscosity (Настоящий стандарт распространяется на текстильные материалы чистольняные, льняные, полульняные, хлопчатобумажные и смешанные и устанавливает методы определения удельной и динамической вязкости медно-аммиачных растворов целлюлозы. Стандарт не распространяется на текстильные материалы с отделкой синтетическими смолами)
Страница 6
Страница 1 Untitled document
Стр. 4 ГОСТ 25968— 83
По согласованию с потребителем допускается измерять СК-
гранулярность цветных негативных фотоматериалов только за
зеленым светофильтром.
4.2.Статический способ определения среднегоквадратиче
ского отклоненияэффективной оптической-плотности
Переметая образец на ммкродемаитометричеокой установке
фиксируют значения эффективной оптической плотности Оэ4>ф, не
менее чем в 400 точках каждого выбранного поля, как указано
и ’П. 1.1. Измеряемые участки должны быть свободны от загрязне
ний, царапин и других дефектов и должны отстоять друг от друга
на расстоянии не менее поперечного сечения измерительного отвер
стия.
Для каждого поля вычисляютсреднее арифметическое значение
и.
Ах
Среднее квадратическое отклонение эффективнойоптической
плотностивычисляют по формуле
где п — число измерений.
4.3.Динамический способ определения среднего квадратиче
ского отклоненияэффективнойоптической плотности
»
Проводят сканирование каждогоиз отобранныхпо п. 4.1
полей испытуемого образца, выбирая трассу сканирования свобод
ную от дефектов.
Проводят фокусировку оптической системы по максимальному
отклонению стрелки отсчетного прибора микроденоитометрнчеокой
установки и снимают его показания.
На каждом поло проводят несколько параллельных измерений,
фиксируют показания отсчетного прибора оия>1.
Затем рассчитывают среднее арифметическое значение не
менее трех -параллельных измерений, допускаемые расхождения
между средним значениех1 и отдельными измерениями не должны
превышать:
±20% для стяам1000= 10—>15;
±15% для Оц,м-1000= 16—50;
±10% для (Тц
1
*1000>50.
Значения, превышающие указанные отклонения, в расчет нс
принимают.
Определяют величину шума электронной системы измеритель
ной установки, снимая показания отсчетного прибора от при вы
ключенной системе сканирования.