ГОСТ Р ИСО 11475—2022
Приложение А
(обязательное)
Спектральные характеристики рефлектометров для определения значений координат
стандартной системы цветовых измерений
А.1 Рефлектометры с фильтром
Требуемых спектральных характеристик рефлектометра добиваются комбинацией ламп, интегрирующей
сферы, оптических стекол, фильтров и фотоэлементов. Фильтры подбирают таким образом, чтобы при данных
оптических характеристиках прибора для испытуемого образца были получены значения трех цветовых координат
Х10, У-ю и Z10 в стандартной системе цветовых измерений CIE 1964 (10°), эквивалентные значениям, полученным с
использованием CIE эталона освещения D65.
А.2 Адаптированные спектрофотометры
А.2.1 Общие положения
Искомые значения цветовых координат получают суммированием произведений измеренных коэффициентов
отражения и значений функции взвешивания, приведенных в стандарте [7] для стандартных условий освещения
D65 и наблюдения CIE 1964 (10°).
В нижней части таблиц А.1—А.4 для каждой колонки приведены значения «контрольной суммы» и «точки
белого». «Контрольная сумма» представляет собой алгебраическую сумму данных. В случае необходимости
копирования таблицы эта сумма позволяет убедиться, что таблица скопирована правильно. Значения контрольных
сумм могут не быть тождественны расположенным ниже значениям «точек белого» вследствие округления.
Каждое значение, приведенное в колонке таблицы, округлено до третьего десятичного знака. Именно значения
«точки белого», и никакие другие, следует использовать в качестве величин Хп, Уп, Zn для перехода значений
цветовых координат, рассчитанных с помощью этих таблиц, к значениям в координатах CIELAB или CIELUV или
для любых других целей, где требуется использовать отношение значений цветовых координат образца к
значениям координат, присущих «точке белого».
Если в верхней или нижней части диапазона длин волн значения измеряемого параметра недоступны,
поступают в соответствии с инструкцией, приведенной в стандарте [7] (пункт 7.3.2.2), которая заключается в
следующем:
Диапазон длин волн меньше диапазона 360—780 нм. Если значение R(K) не может быть измерено во
всем диапазоне длин волн, то значения функции взвешивания при тех длинах волн, для которых коэффициент
отражения неизвестен, прибавляют к значению функции взвешивания для наименьшей или наибольшей длины
волны, для которой спектральный параметр измерен, а именно:
a) для всех длин волн, примыкающих к нижней границе диапазона (360 нм), для которых измеренный пара
метр отсутствует, значения функции взвешивания прибавляют к значению этой функции для ближайшей большей
длины волны, для которой оно известно;
b
) для всех длин волн, примыкающих к верхней границе диапазона (780 нм), для которых измеренный пара
метр отсутствует, значения функции взвешивания прибавляют к значению этой функции для ближайшей меньшей
длины волны, для которой оно известно.
А.2.2 Процедура применения данных, полученных на приборе без коррекции полос пропускания
Если спектральные данные не скорректированы в соответствии с полосой пропускания и полоса пропускания
практически совпадает с интервалом измерения, используют таблицы А.1 иА.2. Таблицу А.1 следует использовать,
если измерения были проведены с интервалом 10 нм, в то время как таблицу А.2 используют при интервале изме
рений 20 нм. Данные, представленные в этих таблицах, включают поправку, учитывающую зависимость от полосы
пропускания, вводимую при расчете значений трех цветовых координат.
А.2.3 Процедура применения данных, полученных на приборе с коррекцией полос пропускания
Таблицы А.З и А.4 используют в случае, когда спектральные данные уже скорректированы в зависимости от
полос пропускания (например, изготовителем прибора), а полоса пропускания практически совпадает с интервалом
измерения. Данные таблицы А.З применяют, когда измерения проводят с интервалом 10 нм, а данные таблицы
А.4 — при интервале измерений 20 нм.
П р и м е ч а н и я
1 Таблицы А.З иА.4 введены дополнительно в настоящий стандартдля обеспечения возможности обработки
результатов измерений, полученных на приборе, не требующем корректировки полос пропускания, т. е. на приборе
с уже встроенной системой корректировки.
8