радиосредств, на которые может оказываться нежелательное воздействие. Рекомендации по
оценке затухания поля с увеличением расстояния от источника ИРПприведены в
приложении Г.
Примечание–Прииспытанияхкрупногабаритныхмикроволновых печей,
используемых в коммерческих целях, необходимо исключить влияние эффектов
ближнего поля на результаты измерений. В качестве руководящего документа
применяют [ 3 ].
10 Меры предосторожности
По своему назначению ПНМБ ВЧ устройства способны создавать электромагнитные
поля, уровни которых могут быть опасными для для человека. До проведения испытаний на
ИРП ПНМБ ВЧ устройство должно быть проверено на соответствие требованиям ГОСТ
12.1.006.
11 Оценка ПНМБ ВЧ устройств на соответствие нормам
ОценкусоответствияПНМБ ВЧ устройств,испытанных в испытательной
лаборатории, нормам ИРП, проводят при выполнении требований раздела 6. Для серийно
выпускаемых ПНМБ ВЧ устройств не менее 80 % устройств должно соответствовать
установленным нормам ИРП с вероятностью 80 %. Процедура статистической оценки
соответствия нормам установлена в 11.1. Для малосерийно выпускаемых устройств или
устройствединичного выпуска применима процедура, приведенная в 11.2 или 11.3
соответственно. Результаты испытаний ПНМБ ВЧ устройства в условиях эксплуатации
должны относиться только к данному устройству, смотированному в конкретном месте, и
не должны считаться репрезентативными для любого другого устройства и другого места
монтажа и, следовательно, не должны использоваться для статистической оценки.
11.1 Статистическая оценка серийно выпускаемых ПНМБ ВЧ устройств на
соответствие нормам
Испытания проводят на выборке из не менее чем пяти и не более чем 12 образцов
данного типа серийно выпускаемых устройств. В исключительных случаях, если
невозможно предоставить пять образцов, то испытания допускается проводить на выборке
из трех или четырех устройств.
Примечание – Оценка результатов измерения, полученных для выборки размером n,
относится ко всем устройствам данного типа и позволяет учесть изменения величин ИРП из-за
различий в технологических процессах.
Устройства соответствуют норме на ИРП, если выполняется следующее соотношение:
X
+ kS
n
£
L,( 14 )
где
X
- выборочное среднее арифметическое значение уровней ИРП от n
устройств;
S
n
-выборочноесреднееквадратическоеотклонениеуровнейИРП,
определяемое из выражения
å
n
1
S
2
=
n
−
1
i
=
n
1
(X
i
−
X)
2
,( 15 )
24
ГОСТ Р 51318.11-99 (СИСПР 11-97)
X
i
- уровень ИРП от i - того устройства;
L - норма на ИРП;