Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ 5.2030-73; Страница 6

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 5.1948-73 Стенд вибрационный ВУ-15М. Требования к качеству аттестованной продукции ГОСТ 5.1948-73 Стенд вибрационный ВУ-15М. Требования к качеству аттестованной продукции Mechanical vibration stand ВУ-15М. Quality requirements for certified products (Настоящий стандарт распространяется на вибрационный стенд ВУ-15М, предназначенный для испытания изделий на воздействие вибрационных нагрузок и по условиям эксплуатации соответствующий исполнению У категории 4) ГОСТ 5.2055-73 Пульт дистанционного управления 55-ПДУ. Требования к качеству аттестованной продукции ГОСТ 5.2055-73 Пульт дистанционного управления 55-ПДУ. Требования к качеству аттестованной продукции Remote control board 55-ПДУ. Quality requirements for certified products (Настоящий стандарт распространяется на пульт дистанционного управления типа 55-ПДУ, предназначенный для управления электроприводами предэкранных механизмов, темнителем света, дежурным освещением, а также для технологической сигнализации обычных широкоэкранных и широкоформатных киноустановок) ГОСТ 5.2105-73 Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции ГОСТ 5.2105-73 Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции Laser ellipsometric microscope ЛЭМ-2. Quality requirements of sertified products (Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов)
Страница 6
Страница 1Untitled document