AJDocs
Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть гороскоп на неделю
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
Открыть игру, играйте в нерабочее время :)

ГОСТ 27981.1-88; Страница 13

или поделиться
Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 27981.0-88 Медь высокой чистоты. Общие требования к методам анализа ГОСТ 27981.0-88 Медь высокой чистоты. Общие требования к методам анализа Copper of high purity. General reguirements for methods analysis (Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам анализа меди высокой чистоты, требования безопасности при выполнении анализов) ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа Copper of high purity. Method of chemical-atomic-emission analysis (Настоящий стандарт устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазоне массовых долей х.10 в степени минус 4 %. Метод заключается в растворении навески меди в смеси соляной кислоты и перекиси водорода, отделении меди от примесей экстракцией ди-2-этилгексилдитиофосфорной кислотой, получение концентрата примесей на графитовом порошке с носителем - хлористым натрием и анализе концентрата атомно-эмиссионным методом в дуге постоянного тока с фотографической регистрацией спектра) ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis with photoelectric registration of spectrum (Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей)
Страница 13
Страница 1Untitled document
 © 2017-2025 AJDocs — Живые юридические документы
Мы не храним персональных и любых иных данных пользователей нашего сайта; советуем обращаться к юристам, экспертам и не несем ответственности за достоверность информации, опубликованной на сайте.
Мы в социальных сетях
Телеграм
Youtube
Rutube
ВКонтакте
ОК
Яндекс.Дзен
Электронная почта