Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары
Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары
Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples
Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage (Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный