AJDocs
Указатель
И поиск
Новые формы (Учет|Налоги|КНД
ОКУД|КФД|КБК|СФР|Кадры)
Нотариусы
Москвы и РФ
Регионы
Города
ГОСТы
Новости
Статьи
Ещё
Практика по документам
Курс валют (ЦБ) криптовалют (Бинанс)
Крипта | блокчейн | теханализ
Банкротство физ лиц
Советы юристов
Пособия и пенсии
Справочник Судов
Справочник УФССП
Гороскоп
Игра Фишка для гениев
О проекте
Реклама
Поиск по документам
Поиск по ГОСТам
Яндекс поиск
Гугл поиск
Гороскоп
Игра для умников
Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Найти
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Найти
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть гороскоп на неделю
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
Открыть игру, играйте в нерабочее время :)
ГОСТы постранично
—
ГОСТ 18986.20-77
— страница 2
ГОСТ 18986.20-77; Страница 2
или поделиться
Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы
ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor (Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов)
ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации)
ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления Reference diodes. Methods for measuring differential resistance (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе)
Страница 2
Страница 1
Untitled document