AJDocs
Указатель
И поиск
Новые формы (Учет|Налоги|КНД
ОКУД|КФД|КБК|СФР|Кадры)
Нотариусы
Москвы и РФ
Регионы
Города
ГОСТы
Новости
Статьи
Ещё
Практика по документам
Курс валют (ЦБ) криптовалют (Бинанс)
Крипта | блокчейн | теханализ
Банкротство физ лиц
Советы юристов
Пособия и пенсии
Справочник Судов
Справочник УФССП
Гороскоп
Игра Фишка для гениев
О проекте
Реклама
Поиск по документам
Поиск по ГОСТам
Яндекс поиск
Гугл поиск
Гороскоп
Игра для умников
Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Найти
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Найти
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть гороскоп на неделю
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
Открыть игру, играйте в нерабочее время :)
ГОСТы постранично
—
ГОСТ 18986.19-73
— страница 4
ГОСТ 18986.19-73; Страница 4
или поделиться
Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы
ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance (Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости)
ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности)
ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации)
Страница 4
Страница 1
Untitled document